Yansıtma (Reflectance) Spektroskopi Ölçüm Sistemi · Jinsp

Bakış

JINSP Yansıtma Spektroskopi Ölçüm Sistemi, malzemelerin yüzey ve optik özelliklerini yansıma ile absorpsiyon karakteristiği üzerinden ölçerek numuneyi sayısallaştıran spektrogramlar üretir; spektrometre, ışık kaynağı, optik fiber, test tutucusu ve bilgisayardan oluşur. UV-görünür-NIR ışık kaynaklarıyla 200-1000 nm veya 900-1700 nm dalga boyu aralıklarını destekler. Işık kaynağı döteryum-halojen (180-400 nm halojen, 360-2500 nm döteryum, 30/20 W, 2000 saat) veya tungsten-halojen (350-2500 nm, 20 W, 10.000 saat) olabilir; spektrometre SR50C (200-1000 nm, 2,4 nm @25 µm) veya SR50R17 (900-1700 nm, 6,5 nm @25 µm) modülüdür. 190-2500 nm dalga boyu aralıklı, 100-600 µm çekirdekli Y-tipi (1-7 çekirdek destekli) optik fiber, SMA905 konnektörle bağlanır. Yansıtıcı tutucu (150 mm çaplı plaka) veya entegre küre (30 mm iç çap) aparatı; yüzde 98 üzeri yansıtan PTFE difüz plaka ve yüzde 85 üzeri yansıtan alüminyum ayna standart referans olarak sunulur. Yansıtıcı tutucu 150 mm çaplı ve 15 mm kalınlıkta bir plaka olup entegre küre 30 mm iç çaplıdır; PTFE difüz plaka yüzde 98 üzeri, füzyonlu silika kaplı alüminyum ayna ise yüzde 85 üzeri yansıtma sağlar. Sistem mineral tanımlama, mahsul sağlığı ve gıda güvenliği gibi alanlarda kullanılır.

Bileşenler

Sistem; döteryum-halojen/tungsten-halojen lamba, Y-tipi SMA905 optik fiber, SR50C/SR50R17 spektrometre, yansıtıcı tutucu/entegre küre ve PTFE difüz plaka ile alüminyum ayna referanslarından oluşur.

Uygunluk

Çevre izleme, biyomolekül analizi, mineral tanımlama, ürün/mahsul sağlığı, gıda güvenliği ve optik üretimde yüzey yansıma spektrumu gereken laboratuvarlar.