Ana›Ürünler›Spektroskopik ve Spektrometrik Analiz Cihazları

Numune yüzeyini yüksek enerjili lazer darbeleriyle plazmaya dönüştürüp elementel bileşimi hızla analiz eden lazer kaynaklı plazma spektroskopi sistemi.
Teklifle netleşir
Adet ve kurumsal/kamu alımında teklif alın — tahmin değil, gerçek rakam.
LIBS sistemi, spektrometrenin lazere senkron tetik sinyali göndermesiyle çalışır; lazer, numune üzerine odaklanan bir ışın gönderir. Toplama optiği, dönen sinyali hassas bir zaman penceresinde toplayıp çok kanallı bir spektrometreye (JINSP SR75C serisi) yönlendirir ve bilgisayarda analiz edilir. Yüksek enerjili lazer darbeleri numune yüzeyini uyararak plazma oluşturur; plazmanın spektrumu, hızlı ve saha üzerinde elementel bileşimi ortaya koyar.
Yüksek enerjili lazer darbesi numune yüzeyinde mikroskobik bir plazma oluşturur; plazmadaki uyarılmış atomlar sönümlenirken her elemente özgü dalga boylarında ışırlar. Toplama optiği bu ışımayı hassas bir zaman penceresinde yakalayıp çok-kanallı spektrometreye (SR75C/SR100B serisi) iletir; yazılım, çizgi desenlerinden bileşimi çıkarır. Tekniğin gücü zamanlamadadır: sistemin tetik kontrolcüsü 1 µs adım, 10 µs'den başlayan ayarlanabilir gecikme ve ±0,4 ns jitter ile ölçümü plazmanın doğru evresine kilitler — sürekli arka-plan ışıması dışlanır, element çizgileri temiz okunur.
Lazer 266/532/1064 nm seçenekleriyle sunulur; UV-dayanımlı fiber toplama hattını korur, TTL (≤5 V) tetik ve USB 2.0 veri arayüzü düzeneğin laboratuvar otomasyonuna bağlanmasını kolaylaştırır. 1 ms'ye inen entegrasyon, ardışık atışlarla istatistik biriktirmeye izin verir.
Numunenizin sınıfı (iletken/yalıtkan, yüzey durumu) lazer dalga boyu ve spektrometre seçimini belirler; uygulamanızı iletin, SR75C/SR100B kombinasyonunu birlikte yapılandıralım.
Alaşım doğrulamadan maden numunesi ön-elemesine, kaplama analizi ve atık/geri-dönüşüm ayrıştırmasına kadar hızlı elementel tarama gereken her nokta LIBS'in doğal sahasıdır; numune sınıfınıza göre atış sayısı ve istatistik stratejisi kurulum aşamasında birlikte belirlenir.
Numune yüzeyini yüksek enerjili lazer darbeleriyle plazmaya dönüştürüp elementel bileşimi hızla analiz eden lazer kaynak
Moleküler yapı analizi (Raman/FTIR sınıfı işler) ve numune hazırlamalı yaş-kimya referans analizleri — LIBS elementel ve hızlı-tarama odaklıdır.
| Marka | Jinsp |
| Model / kod | JIN-20 |
| Kategori | Spektroskopik ve Spektrometrik Analiz Cihazları |
| Spektrometre | SR75C / SR100B serisijinsptech.com üretici (dogrulandi) |
| En kısa entegrasyon süresi | 1 msjinsptech.com üretici (dogrulandi) |
| zaman kontrolcüsü tetik adımı | 1 µsjinsptech.com üretici (dogrulandi) |
| tetik gecikmesi | min 10 µs (ayarlanabilir)jinsptech.com üretici (dogrulandi) |
| tetik jitteri | ±0,4 nsjinsptech.com üretici (dogrulandi) |
| tetik seviyesi | TTL ≤5 Vjinsptech.com üretici (dogrulandi) |
| veri arayüzü | USB 2.0jinsptech.com üretici (dogrulandi) |
| Lazer | dalga boyları 266 / 532 / 1064 nmjinsptech.com üretici (dogrulandi) |
| Optik fiber | UV dayanımlıjinsptech.com üretici (dogrulandi) |
±0,4 ns jitter, 1 µs tetik adımı, ayarlanabilir gecikme: ölçüm plazmanın doğru evresine kilitlenir, arka-plan dışlanır.
Lazer yüzeye odaklanır — çözme/parçalama yok; saniyeler mertebesinde bileşim taraması.
| Özellik | Bu sistem (LIBS) | Klasik elementel analiz (lab) |
|---|---|---|
| Numune hazırlığı | Yok denecek kadar az — yüzeye lazer | Çözme/parçalama gerektirir |
| Hız | Saniyeler mertebesi | Saatler |
| Zamanlama | ±0,4 ns jitter'lı hassas tetik |
Fiyat ve teslim süresi, ihtiyacınıza göre hazırlanan teklifle netleşir — tahmin değil, gerçek rakam. Teklif isteyin ya da Nova'ya sorun.
Net teslim tarihi teklif öncesi yazılı verilir; stok/sevkiyat ürün ve döneme göre değişir.
e-Fatura, kurumsal ödeme ve kamu ihale evrakı sağlanır.
Uygulamanızı ve numunenizi yazın; uygun değilse 'değil' der, doğru ürüne yönlendiririz. Yetmeyeni satmayız.
Kurulum gerektiren cihazlarda uzaktan kurulum ve kullanım desteği sağlanır; yerinde eğitim talep üzerine.